晶振和起振电容

关于晶振和起振电容 资料 2010-10-21 23:26:49 阅读258 评论0 字号:大中小 订阅

1:如何选择晶振

对于一个高可靠性的系统设计,晶体的选择非常重要,尤其设计带有睡眠唤醒(往往用低电压以求低功耗)的系统。这是因为低供电电压使提供给晶体的激励功率减少,造成晶体起振很慢或根本就不能起振。这一现象在上电复位时并不特别明显,原因是上电时电路有足够的扰动,很容易建立振荡。在睡眠唤醒时,电路的扰动要比上电时小得多,起振变得很不容易。在振荡回路中,晶体既不能过激励(容易振到高次谐波上)也不能欠激励(不容易起振)。晶体的选择至少必须考虑:谐振频点,负载电容,激励功率,温度特性,长期稳定性。一般来说某一种单片机或外围芯片都会给出一个或几个典型适用的晶振,常用的像51单片机用12M晶振,ATmega系列单片机可以用8M,16M,7.3728M等。这里有一个经验可以分享一下,如果所使用的单片机内置有PLL即锁相环,那么所使用的外部晶振都是低频率的,如32.768K的晶振等,因为可以通过PLL倍频而使单片机工作在一个很高的频率下。

2:如何判断晶振是否被过分驱动

电阻RS常用来防止晶振被过分驱动。过分驱动晶振会渐渐损耗减少晶振的接触电镀,这将引起频率的上升。可用一台示波器检测OSC输出脚,如果检测一非常清晰的正弦波,且正弦波的上限值和下限值都符合时钟输入需要,则晶振未被过分驱动;相反,如果正弦波形的波峰,波谷两端被削平,而使波形成为方形,则晶振被过分驱动。这时就需要用电阻RS来防止晶振被过分驱动。判断电阻RS值大小的最简单的方法就是串联一个5k或10k的微调电阻,从0开始慢慢调高,一直到正弦波不再被削平为止。通过此办法就可以找到最接近的电阻RS值。

3:如何选择电容起振电容

从原理上讲直接将晶振接到单片机上,单片机就可以工作。但这样构成的振荡电路中会产生偕波(也就是不希望存在的其他频率的波),这个波对电路的影响不大,但会降低电路的时钟振荡器的稳定性. 为了电路的稳定性起见,建议在晶振的两引脚处接入两个瓷片电容接地来削减偕波对电路的稳定性的影响,所以晶振必须配有起振电容,但电容的具体大小没有什么普遍意义上的计算公式,不同芯片的要求不同。

(1):因为每一种晶振都有各自的特性,所以最好按制造厂商所提供的数值选择外部元器件。 (2):在许可范围内,C1,C2值越低越好。C值偏大虽有利于振荡器的稳定,但将会增加起振时间,比较常用的为15p-30p之间。

晶振设计 2006-8-1

晶体振荡器 / 陶瓷振荡器:

XT 、 LP 、 HS 三种方式中,需一晶体或陶瓷谐振器连接到单片机的 OSC1/CLKIN 和 OSC2/CLKOUT 引脚上,以建立振荡,如图 1 所示。电阻 RS 常用来防止晶振被过分驱动。在晶体振荡下,电阻 RF ≈ 10M Ω。对于 32KHZ 以上的晶体振荡器,当 VDD>4.5V 时,建议 C1=C2 ≈ 30PF 。( C1 :相位调节电容; C2 :增益调节电容。)

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外部晶体振荡器电路:

PIC 芯片可以使用已集成在片内的振荡器,亦可使用由 TTL 门电路构成的简单振荡器电路。当外接振荡器时,外部振荡信号)仅限于 HS 。 XT 。 LP )从 OSC 1 端输入, OSC 2 端开路。

图 2 所示的是典型的外部并行谐振振荡电路,应用晶体的基频来设计。 74AS04 反相器以来实现振荡器所需的 180 °相移, 4.7K Ω的电阻用来提供负反馈给反相器, 10K Ω的电位器用来提供偏压,从而使反相器 74AS04 工作在线性范围内。

图 3 所示的是典型的外部串行谐振振荡电路,亦应用晶体的基频来设计。 74AS04 反相器用来提供振荡器所需的 180 °相移, 330 Ω的电阻用来提供负反馈,同时偏置电压。

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RC 振荡:

RC 振荡适合于对时间精度要求不高的低成本应用。 RC 振荡频率随着电源电压 V DD , RC 值及工作环境温度的变化而变化。同时由于工艺参数的差异,对不同芯片其振

荡器频率将不同。另外,当外接电容 C EXT 值较小时,对振荡器频率的影响更大,当然,我们也应考虑电阻电容本身的容差对振荡器频率的影响。

图 4 所示的是 RC 振荡电路,如果 R EXT 低于 2.2K Ω,振荡器将处于不稳定工作状态,甚至停振。而 R EXT 大于 1M [ 时,振荡器又易受噪声、湿度、漏电流的干扰。因此,电阻 R EXT 取值最好在 3K Ω ~100K Ω范围内。在不接外部电容时,振荡器仍可工作,但为了抗干扰及保证稳定性,建议接一 20PF 以上的电容。

PIC 单片机片内有一 4 分频电路,从 OSC 1 /CLKIN 引脚输入或 RC 振荡器产生的振荡频率 f OSC 经 4 分频后从 OSC 2 /CLKOUT 引脚输出 4 分频信号,该信号可用于测试或作为其它逻辑电路的同步信号。

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图 4


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